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测试服务
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数字式四探针测试仪

仪器型号

ST2253型


生产厂家

苏州晶格电子有限公司

性能指标

1. 测试范围

电阻率:10-4~105Ω-cm;

方块电阻:10-3~106Ω/□

电 阻:10-4~105Ω

2. 可测半导体材料尺寸

直径: Φ15~100mm;长(或高)度:  ≤400mm

3. 数控恒流源

电流输出:直流电流0~100mA连续可调,由交流电源供电;量程:1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA

误差:±0.5%

主要用途

运用四探针测量原理,可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率以及扩散层的薄层电阻。

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